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サイズ: | 20.5*58.5*11.3mm | モデル: | DW6184C |
---|---|---|---|
インダクタンス テスト: | 800uH±5% | 漏出テスト: | 12uH MAX |
高圧絶縁試験: | 4000V、60 Sec/1750V、60秒 | 層の分離: | AC 1500脈拍の電圧 |
ハイライト: | 800uHはSMD力誘導器を保護した,ERD41はSMD力誘導器を保護した,力誘導器smd 20.5*58.5*11.3mm |
ERD41はSMD力の製造をカスタマイズしたDW6184Cを保護した
特徴
磁気保護された構造:電子磁気干渉(EMI)への優秀な抵抗。
合成の構造、超低いぶんぶん言う音の騒音。
低損失、高性能、広い適用頻度。
軽量の設計、高密度SMTのために適した保管スペース。
低損失の合金粉によってダイカストで形造ること:低いインピーダンス、小さい寄生キャパシタンス。
実用温度:-40℃ | +125℃ (を含むコイルの温度の上昇)
1. 機械次元(単位:MM)
2.WIDING構造
3. 巻上げのプロセス
巻上げ | 擁壁 | 擁壁 | TS | 絶縁テープ(薄黄色の) | 管 | 車軸に入る方法 | 入る車軸の方向 | ||||||
上 | Pin | 開始 | 端 | ワイヤー及び記述 | 巻く方法 | テープ タイプ | TS | 開始 | 端 | ||||
E1 | / | / | 5 | / | 2UEW-F ∅ 0.25mm*1P | 12 | 堅く風1つの層 | W4.0mm | 2つのTS | 30LX15mm | / | ||
N1 | / | / | 1 | 2 | 1UEW-F ∅ 0.30mm*1P | 16 | 堅く2つの層を巻きなさい | W4.0mm | 2つのTS | 28LX15mm | 28LX15mm | ||
N2 | / | / | 9 | 7 | TLW-Fの∅ 0.60mm*1P | 4 | 堅く2つの層を巻きなさい | W4.0mm | 2つのTS | 21LX15mm | 21LX15mm | 権利の方のPin | 前部 |
N3 | / | / | 2 | 3 | 1UEW-F ∅ 0.30mm*1P | 8 | 堅く風1つの層 | W4.0mm | 2つのTS | 28LX15mm | 28LX15mm | ||
N4 | / | / | 5 | 6 | 1UEW-F ∅ 0.30mm*1P | 6 | 堅く風1つの層 | W4.0mm | 2つのTS | 28LX10mm | 28LX10mm |
4. 電気指定
項目 | テスト ターミナル | テスト条件 | 標準的な条件 | 標準的な条件 | |||
半仕上げ商品 | 標準的な条件 | 標準的な条件 | |||||
インダクタンス テスト | 1 | 3 | 50のKHz、0.1V | 765-835uH | 761-839uH | 800uH±5% | TH1062か同輩 |
漏出テスト | 1 | 3 | 50のKHz、0.1V | 12uH MAX | 12uH MAX | 12uH MAX | TH1062か同輩 |
(他の巻上げへのサーカス) | |||||||
Direct Current抵抗 | 1 | 2 | DC 25℃ | 4つの10のmΩ最高 | 4つの10のmΩ最高 | 4つの10のmΩ最高 | TH2511か同輩 |
9 | 7 | 35のmΩ最高 | 35のmΩ最高 | 35のmΩ最高 | |||
2 | 3 | 230のmΩ最高 | 230のmΩ最高 | 230のmΩ最高 | |||
5 | 6 | 200のmΩ最高 | 200のmΩ最高 | 200のmΩ最高 | |||
回転はテストする | すべての巻上げ | 20KHz、1V | (1--3):(9-7):(5-6の) =24:4:6 (±0.3Ts) | CH3250か同輩 | |||
サーカス テスト | Pin3-5 | ||||||
高圧絶縁試験 | 二次に第一次 | AC50Hz 1mA | 4000ボルト、3秒 | 4300ボルト、3秒 | 4000ボルト、60秒 | CJ2670か同輩 | |
第一次芯を取るため | 1つの750ボルト、3秒 | 2000ボルト、3秒 | 1つの750ボルト、60秒 | ||||
二次中心 | 1つの750ボルト、3秒 | 2000ボルト、3秒 | 1つの750ボルト、60秒 | ||||
層の分離 | Pin (1-3) | 50Hz | AC 1500の脈拍の電圧 | FT6815か同輩 | |||
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